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METTLER梅特勒微量天平XS3DU

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运费说明:

品牌:梅特勒|METTLER

型号:XS3DU

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产品详情

梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的称量性能,完全满足基础称量应用:在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中最佳的重复性可低至0.8 μg,是获得理想的称量可靠性的关键,避免不必要的重复测试,显著地降低了样品和时间的浪费。

梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。

标准配置

内置称量应用程序

TouchScreen触摸屏,方便天平称量和参数设置

SmartTrac彩色动态图形显示器:图形称量辅助,跟踪称量范围和公差

可设置多达10个特定功能的快捷键

可定义3个的信息,用于用户和样品标识

内置RS232C和两个辅助接口;用于连接键盘或ErgoSens外接红外感应器选件,实现无需用手接触的称量操作

第二接口选件插槽;例如LocalCAN,以太网,RS232,MiniMettler,蓝牙或PS/2等接口选件

手动开关门的玻璃防风罩

可更换的显示屏保护盖

下挂钩称量

具有过载保护的称量传感器

显示多种质量单位

差重称量应用程序

计件和百分比称量应用程序

统计应用程序

技术指标

极限值

XS3DU 双量程

最大称量值

3.1 g

可读性

0.01 mg

最大称量值

0.8 g

可读性

0.001 mg

重复性(sd) - 加载处

0.006 mg

- 低加载(加载处)

0.005 mg (0.2 g)

重复性(sd) - 加载处

0.001 mg

- 低加载(加载处)

0.0008 mg (0.2 g)

线性误差

0.004 mg

四角误差(加载处)1)

0.005 mg (2 g)

典型值 4)

典型重复性(sd)

0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr

典型微分非线性(sd)

√2x(10-12)g·R_nt

典型微分四角误差(sd)

1.2 x (10–6)•R_nt

典型灵敏度偏移(sd)2)

3 x (10–6)•R_nt

典型最小称量值* (@>

0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr

典型稳定时间

< 6 sec

稳定时间

< 10 sec

1) 根据OIML R76

2) 在10到30°C的温度范围内

3) 第一次安装,使用proFACT校准,灵敏度稳定性

4) 能用于估计不确定度 >* 重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进:- 选择适当的称量参数设置,- 选择合适的天平放置位置,- 使用较小的去皮容器。

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