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彼爱姆15J测量显微镜

价格:4800元

运费说明:全国包邮

品牌:彼爱姆|BM

型号:15J

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产品详情

用途

15J测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下

1.直角坐标中测定长度,例如测定孔距、基面距离、刻线距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、通孔外圆直径等等。

2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘、样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。

3.用作观察,以比较法检查工作表面粗糙度,鉴定冶金工业的矿石标本,检定印刷照相制版,检验纺织纤维等等。



技术规格

测量工作台读数装置主要规格

X轴移动测量范围:50mm

Y轴移动测量范围:13mm

测微器分度值:0.01mm

测量台转动范围:不限

测量台刻度盘分度范围:0°~360°

测量台刻度盘之分度值:1°

测量台刻度盘游读数示值:6′

3.测量精度:

仪器示值误差:±(4+L/15 )um

仪器示值误差:包括测量误差与仪器系统误差。

注:测量地点温度变化(20±3)℃

  L-被测件长度(mm)

4.仪器之主要尺寸:

测量台与物镜间之最大距离:80mm

测量工作台直径:120mm


物 镜目 镜显微镜
放大倍数
工作距离 (mm)视场直径(mm)
放大倍数焦距 (mm)放大倍数焦距 (mm)
2.5X/0.0843.4010X25.0025X58.845.6
10X/0.2517.13100X7.811.4


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