hi~,欢迎来到申光仪器网!
热门搜索:
产品说明
适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、粉尘、填料等各种粉末颗粒的粒度测量、形貌观察和分析。
产品特征
软件功能及报告输出格式
1、可以对图像进行多项处理:如:影像增强、图像叠加、局部提取、定向放大、对比度、亮度调节等几十种功能。
2、具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量。
3、可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数,以线性或非线性统计方式绘出分布图
4、WKL-702颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和粒度测量的颗粒分析系统,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。
5、该系统通过专用的数字摄像机将显微镜的颗粒图像拍摄下来传输给电脑,通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行处理分析,具有直观、形象、准确和测试范围宽等特点。可以观察颗粒形貌,也可得到粒度分布等分析结果。
技术参数
仪器型号 | WKL-702 |
测量范围 | 0.1~3000(微米) |
总放大倍数 | 8000倍 |
最大分辨率 | 0.1微米/像素 |
重复性 | 误差≤±1% |
自动分割速度 | ≤1秒 |
数字摄像机(CCD) | 500万像素 |
数据储存 | 电脑另配 |
通信接口 | USB |
操作系统 | Windows 98/XP/7/8/10系统均可 |
电源 | AC220V ±10% 200W |
仪器尺寸 | 270mmX410mmX440mm |
仪器净重 | 15kg |
版权所有:上海申光仪器仪表有限公司|
沪ICP备07507566号-1
|
技术支持:网站建设与维护 - 兆量网络营销推广
021-63017164